DAK-TL, SPEAG’s new test systems to measure dielectric and magnetic properties of thin material samples

薄膜介電量測參數套件(DAK-TL-P)和薄膜介電導磁量測參數套件(DAK-TL-P2)這兩款最新套件，目前可以將代測物在尺寸或是體積有限制可量測相關電介質和磁材料特性

DAK-TL-P2可以將頻率範圍在200MHz-20GHz薄膜代測物(厚度0.1 – 10 mm)或是體積小(0.5 – 50 ml)的液體或是醫學材料量測有關電介質和磁材料特性。此套件是以兩個two open coaxial probes為基底，一個為目前DAK-3.5探棒加上光束套件而另一個探棒固定在相同平台。此系統為自動化系統會將探棒移動到光束探棒。

此光束探棒可對齊平台確認最大的連接點。DAK軟體可以自動控制馬達移動到平台量測代測物厚度，並且在量測的期間會精準施加力道在代測物上確認量測均勻。複雜的反射和傳輸參數量測是運用2-port的網路分析儀。

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DAK-TL-P與DAK-TL-P2是相同的。不同點在於只有連接一隻光束探棒來量測複雜的介電參數。此套系統可以升級到不同頻段，藉由不同的探棒從DAK1.2, DAK-3.5, and DAK-12，因此DAK-TL-P頻率範圍可以從10 MHz – 67 GHz。

這兩組套件與現在市售網儀皆可相容。DAK-TL-P2系統也可成換成DAK-TL-P單一量測介電系數，只須更換平台探棒即可。

For more detailed information on DAK-TL-P², please click here:

http://speag.swiss/products/dak/dak-dielectric-probe-systems/dak-tl-p2-200-mhz-20-ghz/

For DAK-TL-P, please visit:

http://speag.swiss/products/dak/dak-dielectric-probe-systems/dak-12tl-p-10-mhz-3-ghz/

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