SPEAG @ IEEE 2018年国际微波研讨会

展会 : IEEE 2018年国际微波研讨会，美国费城

日期 : 2018, 6/12-14

展位 : #1835

IEEE MTT国际微波研讨会（IMS）是面向微波理论和实践中所有领域的技术专家的最重要的年度国际会议。今年的IMS2018展会是了解SPEAG新颖解决方案和产品特性的绝佳机会，我们将介绍3 kHz - 110 GHz的精确测量、数值优化与分析的广泛应用，包括：:

• 介电系数量测仪(DAK)，用于毫米波范围内的介电特性量测
• 新型EUmmWV2探头、DASY6和ICEy-mmW的5G模组
• 基于感性近场扫描测量辐射性能的ICEy-R模组
• SEMCAD X Matterhorn V17.0以惊人的计算加速度提供许多针对5G的新功能
• 用于5G毫米波应用的EM-Phantoms
• 时域传感器(TDS)
• MAGPy，用于3 kHz - 10 MHz无线功率传输的近场一致性测试解决方案，扩展了允许发射的功率
• 下世代3D合规SAR系统 (cSAR3D)
• 全自动超快速SAR合规系统(cSARD6)

我们现场的专家将展示我们的最新开发成果，并根据单独的需求和期望，回答您可能遇到的任何技术或采购问题。这也是个可以一探我们当前的项目和即将发布的产品的绝佳机会。

我们期待您来访1835号展位

SPEAG团队