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ICEy
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OVERVIEW
Millimeter-wave pseudo-vector power density probes

ICEy -干扰与兼容性评估系统

ICEy是最先进的电抗性近场电磁扫描系统,提供微米精度和高度的测量自动化。 ICEy是5G毫米波发射机一致性测试的首选扫描工具,也是高集成度电子产品中EM干扰和兼容性(EMI / EMC)分析的首选工具。 ICEy可以对被测器件(DUT)进行精确的电磁测量,可溯源至国际校准标准,并且允许独立的不同实验室之间EMI / EMC测量结果的比较。 ICEy是一个一站式测试平台,支持实现准确、友好、高效、快速和高度自动化的近场分析的的所有功能。它是通过与芯片厂,电子封装厂,移动通信企业和医疗市场等等业界密切合作开发出来的。

日常支持的需求可以直接联系您最近的代理商: SPEAG representative

ICEy有哪些独特的功能?

一站式测试方案

ICEy是一个一站式测试系统,其中整合了高精度EMI / EMC和5G毫米波近场测试必需的所有设备:

  • 优化的近场EM测试台和机械扫描系统
  • 毫米波伪矢量功率密度探头
  • 高分辨率微型有源光纤电场和磁场探头
  • 相机和3D DUT表面重建系统
  • 高速EMI / EMC矢量信号分析仪
  • 高性能测量控制和后处理PC
  • 系统和运动控制电路
  • 由我们的工程师进行现场安装,校准和验证
  • 系统设置完成后即可进行测量,并由我们的工程师进行完整的现场培训。
毫米波探头
ICEy-mmWave模块,使用和DAE4ICEy一起整合在ICEy中的新型EUmmWV2探头,可以在10至110 GHz的频率范围内在距离任意表面近至2 mm的位置上进行功率密度一致性测试,同时测量不确定性极小。 该模块兼容所有国际和国家标准,例如IEC TC106 AHG10,FCC等。

有源光纤传感器


凭借我们的TDS 有源光纤传感器技术,我们将EMI / EMC近场探头技术提升到了一个新的水平,引进了全球首个对RF-EM无干扰的EMI / EMC近场探头技术:

  • 透过光纤隔离,传感器头是浮动的,不会干扰DUT EM场分布
  • 探头由低损耗,低介电常数的材料制成,最小化对DUT EM场分布的干扰
  • 有源传感器设计透过在探头中整合加入低噪声放大器提供卓越的灵敏度
  • 取决于测量接收机的设置,我们的TDS系统的宽频带特性允许使用相同探头在时域或频域内进行测量。
  • 借助130 dB的动态范围,我们的TDS系统适用于最苛刻的测试应用。
  • TDS系统允许测量EM相量,即复数EM矢量。
  • SPEAG掌握的有源光学传感器的小型化技术使得我们的TDS探头非常适合高分辨率近场测量
精确性 ICEy提供μm扫描分辨率,完全可溯源的校准设备,以及任意信号源的规定的测量不确定性。
测试速度 透过提供有效的引导,以基于计算机视觉支持和高级评估库之视觉排序量测活动,先进的图形用户界面(GUI)加速量测与设置。 可以在一秒钟内获得数百万个测量样本。 透过将矢量信号分析仪直接整合到控制PC的PCI高速总线上,实现了卓越的测量速度。
多功能性 大扫描体积和完全屏蔽的无反射EM环境,支持广泛的近场扫描应用。
客制化 强大的脚本环境允许用户在扫描过程中控制外部设备,并且可以为了特殊控制和后处理环境编写客制化延伸指令。 另外可以定制硬件组件,例如探针。
自动化 高级GUI可以进行计算机辅助量测设置。 可以基于DUT的立体图像来规划量测。 高精度计算机视觉重建技术用于在量测之前自动而非接触式地获取DUT表面结构的高分辨率3D图像。 可以使用计算机控制的机械扫描系统来进行完全自主的实际测量。
校准 ICEy TDS和EUmmW探头在我们ISO17025认证的实验室中进行校准。对于跨实验室EMI / EMC测量结果比较和5G一致性测试来说,可追踪的校准和已知的测量不确定性是必需的。 ICEy亦可使用经过校准的验证源在测量前进行自动系统验证,以确保每次测量的可靠性。用于客户现场重新校准的自动校准程序和校准工具,也确保了高度的机械完整性,从而实现计算机视觉表面重建系统的精确对位。
支援 透过苏黎世的研发和高级应用团队,可以直接获得高水平的支持。

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镭射安全分类 IEC60825-1 2007 Class 1
US FDA CDRH registration