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01/09/2020

cSAR3D V4.0:阵列系统技术的突破

新型X10合成器为cSAR3D Flat phantoms提供了更高的测量分辨率,将针对任何信号源的测量不确定度降至30%以下,并将频率范围扩展至10 GHz。

cSAR3D第4版标志了基于矢量测量的阵列测量系统的重大进展:新集成的“X10合成器”,是由IT'IS Foundation开发的一种新型算法,可将多个随机移动的单独测量值可靠地组合到高分辨率网格上,通过实际上提高空间采样的分辨率消除了固定阵列传感器密度的物理限制。因此,cSAR3D的频率范围已扩展到10 GHz,且对于任何信号源的不确定性都已降低到30%。现在是完美的时机,因为联邦通信委员会(FCC)和其他监管机构最近开放了6 GHz以上的未注册频谱,并且即将发布的IEC / IEEE标准62209-1528也包括了高达10 GHz的SAR测量程序。

cSAR3D第4版的重要新特性:

  • X10合成器—新颖的空间组合算法,可提供更高的测量分辨率
  • 扩展频率范围高达至10 GHz
  • 估算吸收的功率密度(上皮功率密度),以便与新的ICNIRP准则和IEEE C95.1标准中的新限制进行比较
  • 更快速的测量时间

以下视频很好地演示了这些新功能以及它们的易用性。

更高的测量分辨率

称为X10合成器的空间组合算法易于使用,不需要任何新设备。该软件指导用户在cSAR3D Flat上的随机位置对设备进行多次测量。然后,它会根据特定吸收率(SAR)分布自动判断设备位置的偏移,并使用这些偏移来重建基于高密度测量点的三维模式。因此,可以克服物理分辨率的限制,从而测量具有非常尖锐的SAR分布的设备。

扩展的频率范围

SPEAG去年将DASY6的频率范围扩展至6 – 10 GHz,现在cSAR3D Flat频率范围也得到了同样的扩展。这满足了无线设备制造商在此频率范围内测试Wi-Fi和5G设备的新兴需求。

无需更改cSAR3D硬件。模型内部的微型传感器具有良好的灵敏度,并且在10 GHz时的电气尺寸很小。组织等效介质已与高达10 GHz的介电参数要求兼容。唯一要求是需将cSAR3D Flat或Quad重新校准以包含6 – 10 GHz频率范围。请留意SPEAG现在已通过ISO / IEC 17025认证,可于650 MHz – 10 GHz范围内的所有频率校准cSAR3D Flat和Quad。

对于非常局部化的特定吸收率分布,cSAR3D第4版显著提高了精度。使用X10合成器以及单次测量在cSAR3D Flat进行了完整的IEC 62209-3验证(264个测试情况)。使用X10合成器在6 – 10 GHz频率范围内进行了额外的验证测试。结果显示,所有组合值均在目标值的+/- 1 dB以内,意味着使用X10合成器时,对任何信号源的测量不确定度均小于30%。

吸收功率密度

另一个创新特点是,cSAR3D第4版还可以评估并显示于1 cm2或4 cm2区域内平均的吸收功率密度(IEEE C95.1中也称为上皮功率密度)。ICNIRP(2020)和IEEE C95.1(2019)在6 GHz以上频率定义了该剂量限值。这些新的基本限制将很快被监管机构采用。

更快的测量速度

SPEAG还提高了测量速度。 现在的测量时间为2.6秒,包含了数据采集、三维场重建评估、不确定性计算以及结果的图形化输出。这也提高了生产线环境中品控测试的吞吐量。无线设备制造商因为cSAR3D的速度和自动化功能而将其应用于工厂内的采样测试。

cSAR3D V4.0及其手册可在此处下载。